Espectrometria de masses: diferència entre les revisions
Contingut suprimit Contingut afegit
Cap resum de modificació |
Cap resum de modificació |
||
Línia 1:
[[Fitxer:NanoESIFT.jpg|thumb|Feix d'ions per electrospray en un espectròmetre de massa.]]
L''''espectrometria de masses''' és una tècnica experimental que permet la mesura de [[Ió (àtom)|ions]] derivats d'una [[molècula]]. L{{'}}'''espectròmetre de masses''' és un instrument que permet analitzar amb gran precisió la composició de diferents elements químics i [[isòtop]]s atòmics, separant els nuclis atòmics en funció de la seva relació [[massa]]-[[Càrrega elèctrica|càrrega]] (m/z). Es pot utilitzar per identificar els diferents elements químics que formen un compost, o per determinar el contingut isotòpic de diferents elements en un mateix compost. Es pot trobar generalment com a detector de cromatografia. En aquest sentit, es pot acoblar a [[cromatògraf de gasos|cromatografia de gasos]] (tècnica híbrida coneguda per les seves inicials en anglès GC-MS) o a [[cromatografia líquida]]
L'espectròmetre de masses mesura raons càrrega/massa de ions, escalfant un feix de material del compost a analitzar fins a vaporitzar i ionitzar els diferents àtoms. El feix de ions produeix un patró específic en el detector, que permet analitzar el compost. En la indústria és altament utilitzat en l'anàlisi elemental de semiconductors, biosensors i cadenes polimèriques complexes.
Línia 11:
La tècnica de '''detecció d'ions''' es basa en el fenomen conegut com''' desbastat''' (''sputtering'', en anglès) de partícules centrades en un blanc, que són bombardejades per ions, àtoms o molècules. Depenent de l'interval d'energia de la partícula primària, ocorren col·lisions elàstiques o inelàstiques:
* En l'interval dels keV, les interaccions dominants són les '' elàstiques ''.
* Les col·lisions
El procés de dispersió produeix ions secundaris en el rang de les energies cinètiques traslacionals. Les distribucions d'energia són diferents per ions atòmics o moleculars. L'eficiència d'ionització de l'SIMS és definida com la fracció dels àtoms escampats que es tornen ionitzats. L'eficiència varia pel que fa a l'element d'anàlisi en diversos ordres de magnitud. Les influències més òbvies són el potencial d'ionització i l'afinitat electrònica dels ions negatius.
=== Conceptes clau ===
* '''
* '''
** La massa
** La massa mitjana és la suma de la mitjana química de les masses dels seus components considerant la seva abundància.
* La precisió de massa és un percentatge de la massa mesura i es mesura tant en tant per cent com en parts per milió.
Línia 54:
=== Font d'ionització ===
La '''
Les tècniques per a la ionització han estat dominants per determinar quins tipus de mostres es poden analitzar per espectrometria de massa. La ionització de l'electró i la ionització molecular s'utilitzen per als gasos i els vapors.
Línia 71:
: <math>\vec{F}= q (\vec{E}+\vec{v}\times\vec{B}) </math>
on ''
Segons el que demostrat amunt, els instruments de l'àrea canvien la direcció dels ions que estan volant a través de l'analitzador total. Els ions incorporen un camp magnètic o el camp elèctric que dobla les trajectòries de l'ió dependents en la seva massa i càrrega, desviant la mudança més ràpida, ions més lleugers més. Així, l'analitzador dirigeix les partícules al detector, variant un camp elèctric o magnètic que es basa en el quocient massa/càrrega (m/z).
Actualment hi ha diferents mètodes per a "filtrar" els ions respecte a la seva relació Massa/càrrega. El més comunament utilitzat és l'anomenat
La configuració dels actuals espectròmetres de massa passa per disposar d'un, dos i fins a tres
L'analitzador es pot utilitzar per seleccionar una gamma estreta de m/z
* Potser el més fàcil d'entendre és l'analitzador
* Els analitzadors totals
=== Detector ===
| |||