Nanotecnologia: diferència entre les revisions

Hi ha uns quants desenvolupaments moderns importants. El [[microscopi de forçaforces atòmicatòmiques]] (AFM) i el [[microscopi d'efecte túnel]] (STM) són dues primeres versions de sondes d'escombratge que van engegar la nanotecnologia. Hi ha altres tipus de [[microscòpia de sonda d'escombratge]], tot va sorgir a partir de les idees del [[microscopi confocal]] d'escombratge desenvolupat per [[Marvin Minsky]] el 1961 i el [[microscopi acústic d'escombratge]] (SAM) desenvolupat per [[Calvin Quate]] i els seus col·laboradors durant els anys 1970, que fan possible veure estructures a nanoescala. La punta d'una sonda d'escombratge també es pot fer servir per manipular nanoestructures (un procés anomenat muntatge posicional). La metodologia de posicionament escombrant orientada la característica suggerida per [[Rostislav Lapshin]] sembla ser una forma que previsiblement permetrà implementar aquestes nanomanipulacions de mode automàtic. Tanmateix, això és encara un procés lent a causa de la baixa velocitat d'escombratge del microscopi. També es desenvolupaven diverses tècniques de [[nanolitografia]] com la [[nanolitografia òptica]] la [[litografia de raig X]] la [[litografia de raig d'electrons]] o la [[litografia nanoimpremta]].