Espectrometria de masses: diferència entre les revisions
Contingut suprimit Contingut afegit
→Història: no estaven be exposats |
|||
Línia 5:
L'espectròmetre de masses mesura raons càrrega/massa de ions, escalfant un feix de material del compost a analitzar fins a vaporitzar i ionitzar els diferents àtoms. El feix de ions produeix un patró específic en el detector, que permet analitzar el compost. En la indústria és altament utilitzat en l'anàlisi elemental de semiconductors, biosensors i cadenes polimèriques complexes.
== Història de ESPAÑA ==
El fenomen d'emissió d'ions secundaris va ser observat per primera vegada al començament del segle XX. El primer instrument semblant a un espectròmetre de masses va ser descrit a [[1899]] pel científic anglès J. J. Thomson, que estava interessat a mesurar la relació massa-càrrega de l'electró. El 1918 i 1919, A. J. Dempster i F. W. Aston van construir els primers instruments capaços d'actuar com un espectròmetre de masses.
== Fonaments de l'espectrometria de masses d'ions secundaris (SIMS a.k.a. el juego) ==
La tècnica de '''detecció d'ions''' es basa en el fenomen conegut com''' desbastat''' (''sputtering'', en anglès) de partícules centrades en un blanc, que són bombardejades per ions, àtoms o molècules. Depenent de l'interval d'energia de la partícula primària, ocorren col·lisions elàstiques o inelàstiques:
* En l'interval dels keV, les interaccions dominants són les '' elàstiques ''.
| |||