EEPROM: diferència entre les revisions

Contingut suprimit Contingut afegit
Cap resum de modificació
Etiquetes: Revertida Edita des de mòbil Edició web per a mòbils
Cap resum de modificació
Etiquetes: Revertida Edita des de mòbil Edició web per a mòbils
Línia 6:
Aquesta nova estructura d'Intel va augmentar la fiabilitat de l'EEPROM, ja que va millorar la resistència dels cicles d'escriptura i esborrament i el període de retenció de dades.<ref>{{ref-web|cognom1=Koga|nom6=M.|arxiuurl=https://web.archive.org/web/20180314042641/http://www.ti.com/pdfs/hirel/space/V3690SEE.pdf|url-status=live|editor=The Aerospace Corporation|url=http://www.ti.com/pdfs/hirel/space/V3690SEE.pdf|títol=SEE Sensitivities of Selected Advanced Flash and First-In-First-Out Memories|nom7=P.|cognom7=Yu|cognom6=Zakrzewski|nom1=R.|nom5=S.|cognom5=Crain|nom4=K.|cognom4=Crawford|nom3=J.|cognom3=George|nom2=V.|cognom2=Tran|arxiudata=2018-03-14}}</ref>
 
L>
== Estructura actual de l'EEPROM ==
Avui dia, l'EEPROM és emprat en [[Microcontrolador|microcontroladors]] incrustats i en productes amb una memòria EEPROM estàndard. l'EPPROM encara requereix una estructura amb 2 transistors per bit per eliminar un byte dedicat en la memòria, mentre que la [[memòria flaix]] té un transistor per bit per eliminar una regió de memòria.<ref name="Skorobogatov 2017">{{cite conference|last=Skorobogatov|first=Sergei|title=How Microprobing Can Attack Encrypted Memory|conference=2017 Euromicro Conference on Digital System Design (DSD)|date=2017|location=Vienna|pages=244–251|doi=10.1109/DSD.2017.69|url=https://www.cl.cam.ac.uk/~sps32/ahsa2017_prob.pdf#page=2|isbn=978-1-5386-2146-2}}</ref>
 
G]