Ultraviolat: diferència entre les revisions

La radiació ultraviolada extrema (EUV o XUV) es caracteritza per interaccionar amb la matèria d'una manera diferent en funció de la seva longitud d'ona, les longituds d'ona més llargues, d'aproximadament 30 nm, interactueninteraccionen principalment amb els [[Electró de valència|electrons de valència]] dels [[àtoms]], mentre que les longituds d'ona més curtes interactueninteraccionen principalment amb electrons de la capa interior i els [[Nucli atòmic|nuclis]]. L'extrem de l'espectre EUV s'estableix per una prominent [[línia espectral]] d'[[heli|He⁺]] als 30,4 nm. La radiació EUV és fortament absorbida pels materials més coneguts, però és possible sintetitzar un recobriment òptic de múltiples capes, que reflecteixi fins a un 50% de la radiació EUV en una incidència normal. Aquesta tecnologia ha estat utilitzada en la fabricació de [[telescopi]]s per a l'obtenció d'imatges del Sol, els primers van ser el NIXT (''Normal Incidence X-ray Telescope'') i el MSSTA (''Multi-spectral solar telescope array'') que van ser llançats a l'espai a la [[dècada del 1990]]; exemples actuals serien el [[Solar and Heliospheric Observatory]] (SOHO) on hi ha el EIT (''Extreme UV Imaging Telescope'') i el TRACE (''Transition Region and Coronal Explorer''). En el camp de la fabricació de [[Circuit integrat|circuits integrats]] s'utilitza en la [[nanolitografia]].